光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。
主要原理：
光電流測試的原理是利用光照射器件或材料后，通過測量器件或材料的電流輸出來判斷其光電性能。測試時，光源會照射在待測試樣品上，產生電子和空穴對并使其發(fā)生光電效應，從而產生電流輸出。根據(jù)電流輸出的大小和特征，可以判斷樣品的光電性能和特性參數(shù)。
光電流測試
主要步驟：
(1)準備測試樣品：準備待測試的器件或材料，并將其放置在測試臺上。
(2)設置測試條件：根據(jù)測試要求，設置光源的光強、波長、照射時間等測試條件。
(3)進行測試：打開光源，照射待測試樣品，記錄測試數(shù)據(jù)。
(4)分析測試結果：根據(jù)測試數(shù)據(jù)，分析樣品的光電性能和特性參數(shù)，如響應時間、量子效率、光電轉換效率等。
S-LBIC光電流測試簡介
• 寬光譜范圍(200~14000nm可選)，適用面廣
• 調制法測量技術，提升測量結果信噪比
• 開機即用的Turnkey系統(tǒng)設計，維護簡單
• 監(jiān)視光路，方便樣品定位
• 全反射光路設計，優(yōu)化光斑質量
• 高穩(wěn)定性光源，降低背景噪聲影響
• 標準測量軟件，數(shù)據(jù)導出格式支持第三方軟件
光電流測試應用領域：
• 二維材料，太陽能電池，納米光子學，光電器件，PN結器件…
特點：
• 微米級空間分辨率
• 連續(xù)/脈沖激光可選
• 波長連續(xù)可調的超連續(xù)譜光源可選
• nA、pA、fA不同精度的源表可選
• 可以測量不同偏壓下的光電流圖像/光譜響應度
S-LBIC顯微光電流成像系統(tǒng) 主要應用：
(1)半導體器件測試：光電流測試主要應用于半導體器件的測試和分析，如光電二極管、光敏電阻等。
(2)光電器件測試：該測試方法還可以用于光電器件的測試和分析，如太陽能電池、光伏發(fā)電系統(tǒng)等。
(3)材料研究：光電流測試還可以應用于材料的研究，如光敏材料、半導體材料等的光電性能測試。
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